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测定仪器/分光辐射计

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产品名称: 测定仪器/分光辐射计
产品型号: SR-LEDW-5N
产品厂商: 岩濑商事
产品文档: 无相关文档

简单介绍

TOPCON拓普康/测定仪器/分光辐射计 SR-LEDW-5N，量程极为宽广，*低可测亮度低至0.0005cd/m2,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度；*高可测亮度高达5,000,000cd/m2,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的领 先产品。

测定仪器/分光辐射计  的详细介绍

TOPCON拓普康/测定仪器/分光辐射计 SR-LEDW-5N

特征：

? 量程特别宽广，宽至0.0005～5,000,000cd/m2。
? 搭载FIX模式，可大幅缩短生产线上的连续测定时间(和本公司原有产品比较，可缩短1/2时间)
? 提升了灵敏度的均衡性能，从而能轻松测定LED芯片。
? 装上照度接口（选配件）后，还能够测定照度（lx）。
? 光谱波宽、半波宽5nm

主要用途：

? LED背光、LED照明器具的亮度?色度，以及色温度特性，显色性评价。
? LCD、OLED等，显示器的亮度?色度，色温度特性等所有光学特性评价指标。
? 车载头灯、尾灯等、LED照明器具的亮度?色度的高精度测定。
? 作为光学特性评价探头，搭载于各类自动测量机台上。

技术规格

光亮采集 电子冷却型线性阵列传感器
波长分散原理 衍射光栅
光学系统 对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5°
测定角 2°/1°/0.2°/0.1° *电动切换式
测定距离 350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)
光谱波宽 5nm *半波宽
波长精度 0.3nm *Hg 波宽线上
测定波长范围 380 – 780nm
波长分解能力 1nm
测定模式 自动/手动 (积分时间/频率) / 外部垂直同步信号输入
测定内容 分光辐射亮度 : W?sr-1?m-2?nm-1
演算内容 辐射亮度 Le : W?sr-1?m-2, 亮度 Lv : cd?m-2,
CIE1931 色度坐标 xy,
CIE1976 色度坐标 u’ v’, 三刺激值 XYZ,
相关色温度,偏差
CIE 表色系 2°/ 10°
亮度测定范围(*1) (*2) 2°：0.0005 – 1,500,000 cd/m2
1°：0.0015 – 4,500,000 cd/m2
0.2°：0.0375 – 5,000,000 cd/m2
0.1°：　0.15 – 2,000,000 cd/m2
亮度精度(*1) ±2% 以下
色度精度 (*1) ±0.002
重复精度: 亮度(*3) 1.5% ： 0.0005～0.005 cd/m2
0.4% ： 0.005～0.1 cd/m2
0.3% ： 0.1 cd/m2以上
重复精度: 色度(*4) 0.005 ： 0.0005～0.005 cd/m2
0.0015 ： 0.005～0.1 cd/m2
0.0005 ： 0.1 cd/m2以上
偏光特性 亮度 : 1％ 以下, 分光辐射亮度 : 2％ 以下 (400 – 780nm)
测定时间(*5) NORMAL 模式: 约1 – 248秒
HIGH SPEED 模式: 约1 – 17秒
界面 RS-232C, USB 2.0
电源 专用 AC 电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz
功率 约 36W
使用条件 温度: 5 – 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)
外形尺寸 (W×D×H) 150×406×239mm
质量 约 5.5kg


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